首頁(yè) > 檢測(cè)中心 > 功率器件 > 材料 >

單晶XRD測(cè)試

設(shè)備：X射線衍射儀D8-Discover

廠商：布魯克

用途：?jiǎn)尉О敫邔挘逦?，晶向定位分析?/span>

技術(shù)特點(diǎn)：

l 最大適用4英寸單晶測(cè)試

l 新一代的Ius 3.0微焦斑光源，性能媲美微焦斑轉(zhuǎn)靶，零維護(hù)，壽命超長(zhǎng)。

l 液態(tài)金屬靶MetalJET，室neiX射線光源，強(qiáng)度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于微焦斑轉(zhuǎn)靶。

l 采用四代光源XFEL探測(cè)器技術(shù)的PHOTON II CPAD探測(cè)器，超大面積，超快速度，零噪音，單光子檢測(cè)的靈敏度。

l 雙靶配置，軟件自動(dòng)切換光源。滿(mǎn)足不同類(lèi)型的研究需要。元件自動(dòng)識(shí)別，智能化光路管理。